
升級為智慧機械,提升設備附加價值、增進設備競爭力!
客戶針對半導體後段製程設計開發功能三合一分選機,其設計概念為IC外觀檢驗、功能測試與分類篩選功能三合一於同一機台完成。其PLC僅能讀取機況紀錄、沒有資料儲存功能,如有設備異常問題無法後續追溯與分析。
IC測試資訊無法與工單資訊整合,如有測試問題無法得知是哪筆工單IC有問題。
半導體客戶要求資料交握速度必須控制於3秒內/1顆IC內完成。
以邊緣運算智慧盒擔任分選機PLC與IC測試機高速雙向資料交握之橋梁,並將 PLC機況資料、 IC測試資料整合儲存於邊緣運算智慧盒中。
人員啟動測試作業前,在生產資訊系統上先輸入工單與操作人員資訊,達成測試、分選資料與工單相整合之需求。現場人員透過生產資訊系統畫面與機況異常事件紀錄畫面,即可直觀地了解各工單批量的測試結果與變異趨勢,以進一步分析其測試不良之根因是因為外觀不良、功能不良亦或是設備異常。
現場人員透過結批工單之功能,可完整保存該筆工單之完整測試分選資料,包含完成測試時間、工單資訊、操作人員、入料與生產數量、測試不良之類別數量。
透過資料交握程式,將1顆IC之雙向讀取速度控制於3秒內完成。
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邊緣運算智慧盒之雙向通訊及匯出報表留存作業,大幅增加設備之附加價值,增進設備競爭力。